ESTUDIO DE MATERIALES POR DIFRACCIÓN DE RAYOS-X Y XPS (2019-20, Todos los grupos)

Estudio de materiales por difracción de Rayos-X (aplicaciones del método de Rietveld) y XPS

  • Profesor: Cabeza Díaz Aurelio
  • Profesor: Porras Vázquez José Manuel
  • Profesor: Rodríguez Castellon Enrique